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半导体发光二极管芯片测试方法

SJ/T 11399-2009 电子 现行

目录

标准状态

  1. 发布
  2. 实施
  3. 废止

基础信息

标准号
SJ/T 11399-2009
发布日期
2009-11-17
实施日期
2010-01-01
制修订
制定
中国标准分类号
L45
技术归口
中国电子技术标准化研究所
批准发布部门
工业和信息化部
行业分类
无
标准类别
无

备案信息

备案号：26875-2010

备案日期：2014-12-26

备案公告： 2010年第1号(总第121号)

起草单位

中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

起草人

鲍超、胡爱华 等

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